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熱烈歡迎National Instruments公司技術人員來我司技術交流

作者:曹金俐

       4月15日上午,NI數據采集與嵌入式首席產品經理GREG BROWN(左圖)及NI數據采集與嵌入式系統產品市場經理ERIC MYERS(右圖)來我司進行技術交流。

       期間,GREG BROWN、ERIC MYERS對NI產品在我司使用情況及需求進行了深入了解,同時,我司科技人員對NI產品提出了新的要求,雙方表示,此次技術交流對未來的合作發展起到了很大的促進作用。

Greg BrownEric Myers

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